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高加速老化試驗箱
設備名稱:高加速老化試驗箱
產(chǎn)品型號:PC-422R8
設備標準:JESD22-A110D
適用對象:半導體封裝產(chǎn)品
測試量級:ΔT=±0.5℃ Δ=±1% ΔV=±0.1V
T: 100℃-150℃ 55-100%
Bias Vmax=600V