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產(chǎn)品展示

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SEM掃描電鏡
設(shè)備名稱:SEM掃描電鏡&EDX
設(shè)備型號:JSM-6010PLUS/LA
適用標(biāo)準(zhǔn):GB/T 15074-2008
適用對象:產(chǎn)品、材料形貌觀察、元素分析
測試量級:倍率:300000X,有效像素20000X